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金埃谱科技 
| 联系人：杨生忠 先生 (销售经理) |
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| 电 话：010-82133318 |
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| 手 机：18801209661 |
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| 供应氮吸附比表面积分析仪 |
金埃谱科技是国内*早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性*好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模*大,唯一通过ISO9001质量认证的生产企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!
全自动多点静态体积气体吸附仪性能参数
测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t－plot图法外比表面积测定;
测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-500nm(孔径);
测量精度:重复性误差小于1.5%;
真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;
液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;
控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;
样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;
压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa);
压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％);
分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995;
极限真空:4x10－2Pa(3x10－4Torr);
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;
测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr);
数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;
数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表. |
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